超細(xì)粉體粒度檢測(cè)的方法我們已經(jīng)介紹過激光衍射散射法(激光粒度分析儀),離心沉降法和顆粒圖像處理儀的方法, 錫成銘粉體干燥設(shè)備有限公司給大家介紹 一種方法,超細(xì)粉體粒度細(xì)度檢測(cè)之電阻法也叫做庫爾特顆粒計(jì)數(shù)器方法。
庫爾特計(jì)數(shù)器其原理基于小孔電阻原理,即當(dāng)小孔內(nèi)有顆粒通過時(shí),會(huì)引起小孔兩端的電阻發(fā)生變化。不同粒徑的顆粒引起的電阻變化不同,電阻增量正比于顆粒體積。當(dāng)電源是恒流源時(shí),兩極之間會(huì)產(chǎn)生一個(gè)電壓脈沖,其峰值正比于小孔電阻的增量,也正比于顆粒體積。只要準(zhǔn)確測(cè)量出每一個(gè)電壓脈沖的峰值,即可計(jì)算出各個(gè)顆粒的大小,并統(tǒng)計(jì)出粒度分布。
電阻法的特點(diǎn):
1、分辨率高,是現(xiàn)有各種粒度測(cè)定儀中 的。
2、測(cè)量速度快,測(cè)定一個(gè)樣品一般只需15分鐘左右。
3、重復(fù)性好,每次要測(cè)量1萬個(gè)左右的顆粒,代表性較好。
4、操作簡(jiǎn)單,認(rèn)為誤差影響小。
電阻法測(cè)量的主要缺點(diǎn)為:
1、動(dòng)態(tài)范圍較小,對(duì)同一個(gè)小孔管,動(dòng)態(tài)測(cè)量范圍為20:1.
2、容易發(fā)生堵孔故障,使測(cè)量不能繼續(xù)進(jìn)行。
3、測(cè)量下限不夠小,小孔越小,越容易發(fā)生堵孔,對(duì)電解質(zhì)的雜質(zhì)含量要求嚴(yán)格,一般測(cè)量下限為1um。
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