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超細(xì)粉體粒度細(xì)度檢測之顆粒圖像處理儀
發(fā)布日期：2017/07/10超細(xì)粉體檢測的方法已經(jīng)給大家介紹過超細(xì)粉體粒度細(xì)度檢測之激光衍射散射法(激光粒度分析儀)檢測方法和超細(xì)粉體粒度細(xì)度檢測之離心沉降法， 無錫成銘粉體設(shè)備有限公司給大家介紹第三種檢測方法顆粒圖像處理儀。
顆粒圖像處理儀式由光學(xué)顯微鏡、CCD攝像機(jī)、圖像捕捉卡和計算機(jī)組成。
性能特點(diǎn)：
1、除了可以檢測粒度之外還可以進(jìn)行一般的形貌特征分析。
2、所得測量結(jié)果直觀可靠，既可以直接測量粒度分布，又可以作為其他粒度儀器測試可靠性的評判參考儀器。
顆粒圖像處理儀主要的缺點(diǎn)為：
1、操作手續(xù)比較繁瑣，測量時間長，易受人為因素的影響。
2、取樣量較少，代表性不強(qiáng)，適合測試粒度分布范圍比較窄的樣品。
無錫成銘粉體設(shè)備有限公司專業(yè)生產(chǎn)粉體混合、球磨設(shè)備，歡迎各地客戶到我公司實(shí)地考察選購。